• 您可以通過以下方式聯系我們:聯系電話
    當前位置:成功案例 成功案例
    半導體芯片
    應用案例

    應用信息:半導體芯片

    客戶要求和問題:半導體芯片外觀不良檢查

    解決方案及方案內容:奧林巴斯金相顯微鏡

    測試設備: 奧林巴斯金相顯微鏡+相機

    1、客戶現場圖片:

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    2.測試結果:

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    暗場,20X物鏡

    返回
  • <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>